[发明专利]硅反外延片的制造方法及其专用设备有效
申请号: | 200810019867.6 | 申请日: | 2008-03-19 |
公开(公告)号: | CN101311340A | 公开(公告)日: | 2008-11-26 |
发明(设计)人: | 马林宝 | 申请(专利权)人: | 南京国盛电子有限公司 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B25/02 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 | 代理人: | 张苏沛 |
地址: | 210038江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅反外延片的制造方法,首先设计和制造了硅反外延片专用的反外延设备,采用了外延层掺杂用液相掺杂技术,建立了适合硅反外延片的外延工艺条件。所述外延层掺杂用液相掺杂技术,在SiHCL3料源中加入PCl3,混合的比例以能达到外延层电阻率的要求为宜,1Kg SiHCL3加入5ml PCl3。选择合适的工艺条件:气腐温度1190℃,气腐流量20L/min,生长温度1180℃,生长速率5μm/min,保证外延片表面的平整度和外延层的晶格完整性,保证外延层掺杂浓度。 | ||
搜索关键词: | 外延 制造 方法 及其 专用设备 | ||
【主权项】:
1、一种硅反外延片的制造方法,其特征在于:设计和制造了硅反外延片所用的外延设备,采用了外延层掺杂用液相掺杂技术,建立了适合硅反外延片的外延工艺条件。
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