[发明专利]基于Z扫描的泵浦探测方法无效
申请号: | 200810023188.6 | 申请日: | 2008-07-17 |
公开(公告)号: | CN101324503A | 公开(公告)日: | 2008-12-17 |
发明(设计)人: | 杨俊义;李云波;宋瑛林;王玉晓;顾济华 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/01 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陶海锋 |
地址: | 215123江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于Z扫描的泵浦探测方法,把激光束分为两束,泵浦光经时间延迟聚焦到待测样品上,使非线性样品产生非线性吸收和非线性折射;出射的探测光经分光镜分为两束,一束直接进入第一探测器,另一束通过一个中心和光轴重合的小孔径光阑后进入第二探测器;其特征在于:在所述探测光光路中,凸透镜前设置有相位物体,其测量步骤为:①放上待测样品,用两个探测器分别收集不同时刻探测光的能量;②对不同延迟时间的探测光能量曲线进行处理,获得光学非线性参数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单,非线性吸收和折射可以同时测量而不需要分开进行、可以同时测量非线性折射的大小和符号,测量结果精确等优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 扫描 探测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于Z扫描的泵浦探测方法,把激光束分为两束,光强较强的一束为泵浦光,较弱的一束为探测光,泵浦光经过时间延迟聚焦到待测样品(12)上,使处于基态的待测样品产生非线性吸收和非线性折射;所述待测样品位于探测光光路中凸透镜(11)的焦平面上,出射的探测光经一分光镜分为两束,一束直接进入第一探测器(17),另一束通过一个中心和光轴重合的小孔径光阑(14)后进入第二探测器(15);其特征在于:在所述探测光光路中,凸透镜(11)之前设置有相位物体(10),其测量步骤为:①放上待测样品,用两个探测器分别收集不同时刻探测光的能量;②对上述获得的不同延迟时间的探测光能量曲线进行处理,获得所需的检测材料的光学非线性参数。
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