[发明专利]采用磷埋及深磷埋技术的双极型纵向NPN管制作工艺有效

专利信息
申请号: 200810025559.4 申请日: 2008-04-29
公开(公告)号: CN101276784A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 苏卡;邓晓军;卜惠琴 申请(专利权)人: 无锡友达电子有限公司
主分类号: H01L21/8222 分类号: H01L21/8222;H01L21/331;H01L21/76
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 叶连生
地址: 214028江苏省无锡市国家*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 采用磷埋及深磷埋技术的双极型纵向NPN管制作工艺是一种在双极型纵向NPN管制作工艺中采用磷埋及深磷埋技术的工艺方法,为了减小NPN管饱和压降,提高电路输出功率。采用磷埋及深磷埋技术的双极型纵向NPN管制作工艺,即在制作NPN管的双极工艺中采用磷埋层及深磷埋技术。采用磷埋及深磷埋技术与常规采用锑埋技术芯片面积大小相同,不需额外增加芯片面积,仅工艺过程有所不同。采用磷埋及深磷埋工艺制作NPN管的材料片为P型<111>晶向,电阻率为10~20Ω·cm,而采用深磷埋技术后,由于深磷埋的上翻作用,可以有效的补偿深磷扩散较深时的浓度与体积,从而消除了深磷与埋层接触处电阻偏大的瓶颈问题。
搜索关键词: 采用 深磷埋 技术 双极型 纵向 npn 制作 工艺
【主权项】:
1.一种采用磷埋及深磷埋技术的双极型纵向NPN管制作工艺,其特征在于该工艺具体如下:a.投料:            采用P型基片,晶向为<111>,b.氧化:            在基片表面氧化,氧化厚度c.磷埋光刻、腐蚀:  在纵向NPN管N埋部位刻出光刻窗口,d.磷埋注入:        注入部位为纵向NPN管N埋区,注入能量50KeV~                    120KeV,注入剂量8E14~1.2E15,杂质为磷,e.磷埋退火:        退火温度为1050℃~1200℃,先通280~320分钟氮气,                    再通110~130分钟氧气,f.硼埋光刻、注入:  注入部位为隔离槽区,注入能量50KeV~100KeV,                    注入剂量2E14~1E15,杂质为硼,g.深磷埋光刻、注入:注入部位为纵向NPN管集电区,注入能量50KeV~                    120KeV,注入剂量1E15~4E15,杂质为磷,h.深磷埋退火:      退火温度1050℃~1200℃,通入55~65分钟氮气,i.外延:            在纵向NPN管集电区部位外延,厚度5~10微米,                    电阻率2~4Ω·CM,j.深磷扩散:        扩散部位为NPN管集电区,深磷预扩1000℃~1100℃,                    先通4~6分钟氮气和氧气,接着通35~45分钟磷源,最后                    通4~6分钟氮气和氧气;深磷再扩为1100℃~1200℃,先                    通4~6分钟氧气,接着通65~75分钟氢气和氧气,最后通                    4~6分钟氧气,k.隔离扩散:        扩散部位为隔离槽,目的是与硼埋对通,隔离预扩为600                    ℃~900℃,先通8~12分钟氮气和氧气,接着通22~28                    分钟硼源,最后通8~12分钟氮气和氧气;隔离再扩为1100                    ℃~1200℃,通入8~12分钟氮气和氧气,l.P-、基区注入:    注入部位为P-电阻区、基区电阻区及NPN管基区,P-注入                    能量50KeV~100KeV,剂量为1E13~3E13,杂质为硼;                    基区注入能量50KeV~100KeV,剂量为2E14~4E14,杂                    质为硼,m.P+注入:          注入部位为横向PNP管发射区,集电区,注入能量为50KeV~                    100KeV,剂量为8E14~2E15,杂质为硼,n.P+退火:          退火温度1050℃~1200℃,通入25~35分钟氮气,o.发射区扩散:      扩散部位为NPN管集电极欧姆接触区及发射区,发射区予                    扩为900℃~1100℃,先通4~6分钟氮气和氧气,接着通                    12~18分钟磷源,最后通4~6分钟氮气和氧气;发射区再                    扩为900℃~1100℃,先通4~6分钟氧气,接着通25~35                    分钟氢气和氧气,最后通4~6分钟氧气,p.接触孔光刻、腐蚀:采用干法加湿法的方法刻蚀,以形成良好的表面状态,q.一铝溅射:        在基片表面上溅射0.8~1.2微米铝硅,r.介质淀积:        在基片表面上淀积10000~20000埃氮化硅,s.通孔光刻、刻蚀:  刻出一铝与二铝之间连接的通孔区域,t.二铝溅射:        溅射1.2~2微米铝硅,采用厚铝,为提高电路能力,u.压点光刻、刻蚀:  刻出芯片压点区域。
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