[发明专利]用于痕量重金属检测的微纳结构铋电极及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200810028721.8 申请日: 2008-06-11
公开(公告)号: CN101603938A 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 任山;刘向阳 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 代理人: 陈燕娴
地址: 510275广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种用于痕量重金属检测的微纳结构铋电极,为表面分布有微纳尺寸结构的铋阵列,微纳结构铋阵列由铋纳米线或铋纳米片组成,覆盖电极表面20~70%,有效地提高了电极的有效表面积。本发明电极制备方法简单,在用于痕量重金属检测时具有很高的检查灵敏度,实现了电极检测灵敏度的成倍提高。
搜索关键词: 用于 痕量 重金属 检测 结构 电极 及其 制备 方法
【主权项】:
1、用于痕量重金属检测的微纳结构铋电极,其特征在于:电极为表面分布有微纳尺寸结构的铋阵列,微纳结构铋阵列由铋纳米线或铋纳米片组成,覆盖电极表面20~70%。
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