[发明专利]一种测试手机天线性能的方法及测试装置有效

专利信息
申请号: 200810029572.7 申请日: 2008-07-18
公开(公告)号: CN101321023A 公开(公告)日: 2008-12-10
发明(设计)人: 王德炼;侯猛;杨丽萍;周俭军 申请(专利权)人: 深圳华为通信技术有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04Q7/34
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 代理人: 郝传鑫;熊贤卿
地址: 518129广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种测试手机天线性能的方法及测试装置,其中所述方法包括:通过测试装置将带天线的手机结构件与PCB板进行模拟连接;通过所述测试装置测试所述结构件上天线在判决频点的驻波值,并判断所述驻波值与预先设定的判决频点处的驻波值的差值是否在限定值范围内,当判断为是时,确定所述天线性能合格,当判断为否时,则确定所述天线性能不合格。通过采用本发明测试天线性能,可以控制包括天线材质,天线形状的变化等会对天线性能产生影响的因素,并且操作简便,有效的提高了生产效率。
搜索关键词: 一种 测试 手机 天线 性能 方法 装置
【主权项】:
1、一种测试天线性能的方法,其特征在于,包括:通过测试装置将带天线的手机结构件与PCB板进行模拟连接;通过所述测试装置测试所述结构件上天线在判决频点的驻波值,并判断所述驻波值与预先设定的判决频点处的驻波值的差值是否在限定值范围内,当判断为是时,确定所述天线性能合格,当判断为否时,则确定所述天线性能不合格。
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