[发明专利]一种实时测量纳米材料光致伸缩性能的方法

摘要

本发明公开了一种实时测量纳米材料光致伸缩性能的方法，包括以下步骤：(1)采用三片电容板传感纳米探针技术对纳米材料定位和成像，找到纳米材料光滑平整表面，确定纳米材料沿压入方向的厚度。(2)将功率密度为0.2－0.8mW/cm²入射光束引入纳米探针装置，光束入射到金刚石纳米探针与纳米材料相接触区域，对纳米材料实施原位压入保载实验。在延长的保载时间阶段改变入射光束的波长和功率密度，记录探针压痕位移－时间变化曲线。从该曲线上计算光照开始和结束时的位移值之差，为纳米材料沿压入方向的光致变形量。(3)纳米材料的光致变形量与其厚度之百分比为光致伸缩应变，该光致伸缩应变即为纳米材料的光致伸缩性能。本发明具有如下的有益效果，它可解决测试纳米材料在光辐照下光致伸缩性能的技术难题。该方法简单易行，避免了传统的原子力显微镜技术中固有激光的影响，能够准确可靠地测量纳米材料的光致伸缩性能。

主权项

1.一种实时测量纳米材料光致伸缩性能的方法，其特征在于，包括下述步骤：(1)采用三片电容板传感纳米探针技术对纳米材料定位和成像，找到纳米材料光滑平整表面，确定纳米材料沿压入方向的厚度；(2)将功率密度为0.2-0.8mW/cm2入射光束引入纳米探针装置，光束入射到金刚石纳米探针与纳米材料相接触区域，对纳米材料实施原位压入保载实验。在延长的保载时间阶段改变入射光束的波长和功率密度，记录探针压痕位移-时间变化曲线。从该曲线上计算光照开始和结束时的位移值之差，为纳米材料沿压入方向的光致变形量；(3)由纳米材料的光致变形量与其厚度的百分比得到光致伸缩应变，该光致伸缩应变即为纳米材料的光致伸缩性能。