[发明专利]一种可提高切割成品率的切割道有效

专利信息
申请号: 200810035897.6 申请日: 2008-04-10
公开(公告)号: CN101554756A 公开(公告)日: 2009-10-14
发明(设计)人: 陆黎明;赵永;黄伟霞 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B28D5/04 分类号: B28D5/04
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所 代理人: 屈 蘅;李时云
地址: 2012*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种可提高切割成品率的切割道,其设置在晶圆上且将晶圆区隔为多个晶粒,该切割道上设置有多个测试模块,该测试模块具有多个金属垫以及多条连接在金属垫上的金属导线。现有技术中金属导线排布在金属垫外侧且接近晶粒易在切割时产生损伤晶粒的金属碎屑。本发明的金属垫中具有一沿切割道方向贯通并用于设置金属导线的容置凹槽,该容置凹槽终止于该金属垫的顶层金属上,该金属导线经过该容置凹槽穿过或连接在该金属垫上。采用本发明可避免金属导线距离晶粒太近而在切割时产生可损伤晶粒的金属碎屑,如此将大大提高切割工艺的成品率,同时也有效增大了切割道上的布线空间。
搜索关键词: 一种 提高 切割 成品率
【主权项】:
1、一种可提高切割成品率的切割道,其设置在晶圆上且将晶圆区隔为多个晶粒,该切割道上设置有多个测试模块,该测试模块具有多个金属垫以及多条连接在金属垫上的金属导线,其特征在于,该金属垫底部具有一沿切割道方向贯通并用于设置金属导线的容置凹槽,该容置凹槽终止于该金属垫的顶层金属上,该金属导线经过该容置凹槽穿过或连接在金属垫上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810035897.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top