[发明专利]一种减小在线扫描电子显微镜误测定的方法有效
申请号: | 200810036913.3 | 申请日: | 2008-04-30 |
公开(公告)号: | CN101286467A | 公开(公告)日: | 2008-10-15 |
发明(设计)人: | 肖慧敏 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01B15/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 201203上海市张江高科*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在先进的半导体制造工艺中,条宽控制一直是重中之重。扫描电子显微镜作为在线条宽测量设备,要求能够最大限度地减少误测,确保数据真实可靠。但在实际操作中,误测定难以避免。尤其在测量较细的密集线条时,很容易出现想要测量线条却测成了相邻间距的情况。本发明提出一种减小在线扫描电子显微镜误测定的方法,其通过在测量中对所测结构二次电子信号进行分析的方法来判断所测结构是线条还是间距,再将其与测量文件要求的结构进行比较,判定二者是否一致,并在判定二者不一致时自动向左或向右移动半个空间周期来测量正确结构,从而有效减少误测定。 | ||
搜索关键词: | 一种 减小 在线 扫描 电子显微镜 测定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路工艺中减小在线扫描电子显微镜误测定的方法,其特征在于,对所测结构的性质是线条还是间距进行判断,并将其与文件要求进行比较,如果与文件要求的结构性质不一致,则调整上述显微镜向左或向右移动半个空间间距以检测正确结构。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造