[发明专利]一种Ni/Si纳米线阵列的制备方法以及基于这种纳米线阵列的微纳湿度传感器无效
申请号: | 200810037939.X | 申请日: | 2008-05-23 |
公开(公告)号: | CN101307452A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 陶佰睿;苗凤娟;李辉麟;万丽娟;张健 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | C23F17/00 | 分类号: | C23F17/00;C25F3/12;C23C18/32;B82B3/00;G01N27/22 |
代理公司: | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 | 代理人: | 吴泽群 |
地址: | 200062*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种Ni/Si纳米线阵列的制备方法,以及基于这种纳米线阵列的微纳湿度传感器。该器件是在N型硅衬底上采用电化学刻蚀技术制作大面积硅纳米线阵列,然后在该阵列上无电镀沉积镍薄膜。由于该结构具有大的长径比和比表面积,其微观结构独特,能够产生独特的物理、化学特性,其对水分子的吸附和解吸附能力都较纯硅纳米线阵列要好。经500℃RTA快速热退火处理后,该器件表面电阻率增大,电容感湿性能增强。本发明工艺简单,与集成电路工艺兼容,制作成本低,可批量生产,应用前景广阔。 | ||
搜索关键词: | 一种 ni si 纳米 阵列 制备 方法 以及 基于 这种 湿度 传感器 | ||
【主权项】:
1、一种Ni/Si纳米线阵列的制备方法,具体步骤为:1)大面积硅纳米线制备:将N-型硅切割成1cm×1.5cm碎片作为衬底,采用电化学湿法刻蚀技术,按体积比为30mM的AgNO3溶液∶20%的氢氟酸溶液∶去离子水=1∶1∶1的刻蚀液中室温下刻蚀30min;得到高度为85-100μm的硅纳米线阵列;2)Ni-SiNWs纳米复合结构制备:以步骤1)中所得硅纳米线阵列为衬底,在无电镀镍液中沉积镍薄膜,制得Ni-SiNWs纳米复合结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东师范大学,未经华东师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810037939.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种封闭的空心管构件
- 下一篇:用于气态介质的热交换器