[发明专利]四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法有效
| 申请号： | 200810040614.7 | 申请日： | 2008-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN101319958A | 公开（公告）日： | 2008-12-10 |
| 发明（设计）人： | 曾爱军;杨坤;郭小娴;谢承科;黄惠杰;王向朝 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J4/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法，该装置由准直光源、起偏器、标准四分之一波片、衍射分束元件、聚焦透镜、检偏器阵列、光电探测器阵列、放大电路和信号处理系统组成。测量方法是准直光源出射的平行光束经过起偏器、标准四分之一波片后形成圆偏振光，该圆偏振光经过待测四分之一波片后由衍射分束元件进行分光，多个强度相等的子光束由聚焦透镜聚焦在检偏器阵列上各自产生偏振干涉，形成依次具有一定移相量的干涉光强并由光电探测器阵列所接收，光电探测器阵列输出的电信号经过放大电路后由信号处理系统进行处理即可以实时获得待测四分之一波片的快轴方位角度。 | ||
| 搜索关键词： | 四分之一 波片快轴 方位 实时 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种四分之一波片快轴方位实时测量装置，其特征在于该装置由准直光源(1)，起偏器(2)、标准四分之一波片(3)、衍射分束元件(5)、聚焦透镜(6)、检偏器阵列(7)、光电探测器阵列(8)、放大电路(9)和信号处理系统(10)组成，其位置关系是：沿所述的准直光源(1)的光束前进方向上，依次是所述的起偏器(2)、标准四分之一波片(3)、衍射分束元件(5)、聚焦透镜(6)、检偏器阵列(7)、光电探测器阵列(8)，在所述的标准四分之一波片(3)和所述的衍射分束元件(5)之间设置待测四分之一波片(4)，所述的光电探测器阵列(8)探测的信号经所述的放大电路(9)放大后输入所述的信号处理系统(10)进行数据处理。
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