[发明专利]去除铝工艺中热交换器表面沉积的铝薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 200810042592.8 申请日: 2008-09-05
公开(公告)号: CN101664745A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 黄平;陆一峰;叶青;周琦 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B08B7/04 分类号: B08B7/04;B08B3/08;C23F1/36;H01L21/00;H01L21/683
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 屈 蘅;李时云
地址: 2012*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出一种去除铝工艺中热交换器表面沉积的铝薄膜的方法,其包括下列步骤:(a)在所述热交换器表面沉积有铝薄膜的区域涂覆碱性溶液;(b)等待第一设定时间之后,使用去离子水浸湿的无尘布擦拭所述区域,擦拭的同时使用干燥空气或惰性气体吹干所述区域;(c)对所述热交换器进行第二设定时间的烘干处理。本发明提出的去除铝工艺中热交换器表面沉积的铝薄膜的方法,其能够有效地去除热交换器上的铝薄膜,避免因为更换热交换器所带来的高昂费用,降低了生产成本。
搜索关键词: 去除 工艺 热交换器 表面 沉积 薄膜 方法
【主权项】:
1.一种去除铝工艺中热交换器表面沉积的铝薄膜的方法,其特征在于包括下列步骤:(a)在所述热交换器表面沉积有铝薄膜的区域涂覆碱性溶液;(b)等待第一设定时间之后,使用去离子水浸湿的无尘布擦拭所述区域,擦拭的同时使用干燥空气或惰性气体吹干所述区域;(c)对所述热交换器进行第二设定时间的烘干处理。
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