[发明专利]射频微波器件粗糙表面射频有效电导率的计算方法有效
| 申请号： | 200810044356.X | 申请日： | 2008-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN101387665A | 公开（公告）日： | 2009-03-18 |
| 发明（设计）人： | 熊长武;王勇 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十研究所 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610036四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种射频微波器件粗糙表面射频有效电导率的计算方法，包括：在传统表面粗糙度基本参数Ra基础上增加辅助参数Rl，建立二维表面粗糙度描述模型；在测得实际轮廓表面粗糙度基本参数Ra和辅助参数Rl基础上，建立等效简化三角波粗糙表面数学模型；确定电流在简化三角波粗糙表面的分布规律；比较粗糙表面中心电流线长度与理想表面中心电流线长度，计算得到实际粗糙表面的射频有效电导率。本发明弥补了传统几何学粗糙表面评判体系只包含局部一维信息，与粗糙度影响射频有效电导率的基本原理不符的缺陷，避免了复杂电磁场理论分析和数学运算过程，解决了工程应用领域粗糙表面射频有效电导率无法准确分析估算的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 微波 器件 粗糙 表面 有效 电导率 计算方法 | ||
【主权项】：
1. 一种射频微波器件粗糙表面射频有效电导率的计算方法，包括下列步骤：在传统表面粗糙度模型基本参数“轮廓算术平均偏差(Ra)”基础上增加辅助参数“表面轮廓长度率(R1)”，建立二维的表面粗糙度描述模型；在测得实际轮廓表面粗糙度轮廓算术平均偏差基本参数(Ra)和表面轮廓长度率辅助参数(R1)基础上，建立具有上述相同二维表面粗糙度值的等效简化三角波粗糙表面数学模型；结合射频电流趋肤效应和电流线路径最短原则，分析表面电流在简化三角波粗糙表面的分布规律，确定电流在简化三角波粗糙表面的分布区域，确定中心电流线的位置和表达式；比较等效简化粗糙表面中心电流线的长度与理想表面中心电流线的长度，得到实际粗糙表面的射频电导率有效系数，计算出射频有效电导率。
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