[发明专利]绝缘子串耐雷水平的仿真方法无效
| 申请号： | 200810046655.7 | 申请日： | 2008-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN101216525A | 公开（公告）日： | 2008-07-09 |
| 发明（设计）人： | 戴敏;娄颖;李振强;李志军;周沛洪;谷定燮;修木洪 | 申请（专利权）人： | 国网武汉高压研究院 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 武汉天力专利事务所 | 代理人： | 冯卫平;程祥 |
| 地址： | 430074湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种仿真方法，尤其是涉及一种绝缘子串耐雷水平的仿真方法的仿真方法。绝缘子串耐雷水平的仿真方法，基于先导发展速度计算公式： |
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| 搜索关键词： | 绝缘子 串耐雷 水平 仿真 方法 | ||
【主权项】：
1.一种绝缘子串耐雷水平的仿真方法，基于先导发展速度的计算以及先导长度的计算，其特征在于，包括以下步骤：a.通过先导发展系数以及由间隙及极性确定的常数计算先导发展速度以及先导长度，从而判定是否绝缘间隙闪络，得到闪络电压与时间的关系曲线，修正该关系曲线，使其与短尾波雷电冲击绝缘子串伏秒特性曲线一致，得到修正后的先导发展系数以及修正后的由间隙及极性确定的常数；b.将输入电流值以及计算步长值应用到贝吉龙模型，并逐步按增幅为1～5kA增大输入电流值，直至闪络间隙两端的电压与间隙长度的比值大于或者等于修正后的由间隙及极性确定的常数，记录此时的闪络间隙两端的电压；c.由闪络间隙两端的电压、修正后的先导发展系数以及修正后的由间隙及极性确定的常数计算先导发展长度，并调试闪络间隙两端的电压，直至发生间隙闪络，记录此时的输入电流值，此时的输入电流值即耐雷水平。
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