[发明专利]三轴磁强计校正方法以及三轴磁梯度计校正方法无效

专利信息
申请号: 200810047287.8 申请日: 2008-04-09
公开(公告)号: CN101251584A 公开(公告)日: 2008-08-27
发明(设计)人: 卢卓宇;刘斯;张俊杰;蒋昌忠 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R33/02;G01C17/02
代理公司: 武汉天力专利事务所 代理人: 冯卫平;程祥
地址: 43007*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种磁强计校正方法以及磁梯度计校正方法,尤其是涉及一种三轴磁强计校正方法以及三轴磁梯度计校正方法。本发明在无需标准三轴线圈、标准磁场及已规格化三轴磁强计的条件下对三轴磁强计和三轴磁梯度计的非正交性、轴间耦合及灵敏度不一致所产生的误差及载体磁干扰一并进行了校正。本发明以普通的三轴线圈、标量磁强计、高精度电流源组成校正装置,其校正精度与被校正的三轴磁强计单轴的测试精度同数量级。本发明在校正过程中无需转动被校正的三轴磁强计和三轴磁梯度计,操作过程简单,校正精度高,提高了三轴磁强计和三轴磁梯度计对磁场矢量测试精度。
搜索关键词: 磁强计 校正 方法 以及 三轴磁 梯度
【主权项】:
1.三轴磁强计校正方法,主要运用三轴线圈、标量磁强计、电流源、被校正三轴磁强计及载体,其特征在于具有如下步骤:a.将三轴线圈均匀区中心的背景磁场补偿至磁场值小于1nT的水平;b.将步骤a的三轴线圈每个轴向上均依次施加正负两个方向的电流,记录所施加的电流值和放置在上述三轴线圈均匀区中心的标量磁强计相应的输出值,并计算出上述三轴线圈每个轴向上的线圈常数;c.将完成步骤b后的三轴线圈每两个轴向上均依次施加组合电流,记录所施加的电流值和放置在上述三轴线圈均匀区中心的标量磁强计的相应输出值,计算出上述三轴线圈每两个轴之间的夹角及线圈矩阵[T];d.移出完成步骤c后的标量磁强计,放置三轴磁强计及载体在以上述标量磁强计原来所在位置点为圆心,半径小于0.1mm的区域内任何一点处,磁强计三轴的每个轴向与其所对应的标量磁强计的三轴的每个轴向的角度差在0分-10分,并在三轴线圈每个轴向上均依次施加电流,记录所施加的电流值以及三轴磁强计每个轴向与所施加的电流值相应的输出电压值;e.计算步骤d中三轴线圈每个轴向所施加的电流值与步骤b中三轴线圈与上述所施加的电流值相对应的每个轴向的线圈常数的乘积,将完成步骤d后记录的输出电压值除以与三轴线圈每个轴向的输出电压值相对应的上述乘积,并组成系数矩阵[S];f.将步骤c中的线圈矩阵[T]的逆矩阵乘以步骤e中的系数矩阵[S]的逆矩阵得到校正矩阵[T]-1[S]-1;g.将步骤f中的校正矩阵[T]-1[S]-1乘以上述三轴磁强计的步骤d中的输出电压值获得三轴磁强计的校正后的数据。
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