[发明专利]一种无催化剂无碳条件下ZnO纳米棒阵列的制备方法无效
申请号: | 200810047413.X | 申请日: | 2008-04-17 |
公开(公告)号: | CN101333646A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 王浩;王喜娜;张志鹏;朱建华;王毅;姜勇 | 申请(专利权)人: | 湖北大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08;C23C14/54;C23C14/02;H01L33/00;H01L31/18;H01L21/363 |
代理公司: | 武汉金堂专利事务所 | 代理人: | 丁齐旭 |
地址: | 430062湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种无催化剂无碳条件下ZnO纳米棒阵列的结构和性能的控制工艺。工艺为:(1)分别采用射频磁控溅射和激光脉冲沉积技术在HF酸刻蚀后的硅衬底上制备不同质量和性能的ZnO籽晶薄膜。(2)将ZnO籽晶薄膜和高纯ZnO纳米粉放在管式炉内,以一定流量的Ar气为载气,采用较低的升温速率在1350±50℃进行生长,其中蒸发源位于炉子的中心,衬底与源距离为20-38cm。(3)生长一定时间后缓慢降至室温。硅片表面的灰白色沉积物即为ZnO纳米棒阵列。本工艺获得的纳米棒定向排列阵列光学质量和单晶质量较高,能灵活调控阵列的结构和性能,工艺简单易行,成本低,产率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 催化剂 条件下 zno 纳米 阵列 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种无催化剂无碳条件下ZnO纳米棒阵列的制备方法,其特征在于工艺步骤如下:1)、通过公知的氢氟酸刻蚀法将Si(111)单晶外延片的表面氧化层刻蚀掉,用去离子水冲洗干净后用吹风机吹干,立即转入射频磁控溅射生长室,或者转入激光脉冲沉积室,抽真空至10-3Pa-10-5Pa;2)、采用射频磁控溅射法或PLD制备具有不同晶体质量和光学性能的ZnO薄膜,具体的制备路线如下:对于射频磁控溅射法,采用ZnO陶瓷靶和一步生长法即直接300-500℃溅射生长ZnO薄膜,膜厚控制住200-500nm之间;或者对于PLD技术,则采用准分子激光器,ZnO陶瓷靶,以及两步生长法,即先在300-450℃较低温度生长厚度20-40nm的ZnO缓冲层,然后升温到600-650℃生长ZnO外延薄膜;3)、用上述的ZnO薄膜为籽晶模板,用纯度为99.99%的高纯ZnO纳米粉为蒸发源,将蒸发源放置在氧化铝坩埚内,并和ZnO籽晶薄膜同时放在管式炉内,其中蒸发源位于炉子的中心,籽晶薄膜位于气流的下方,衬底与源距离保持在20-38cm之间,对管式炉进行抽真空,并通入Ar气对管式炉进行洗气,流量为60-100标准毫升/分钟,时间为30~60min;以同样流量的Ar气为载气,将管式炉以10℃/min升温到800℃,保温30min后再以5℃/min升到1350±50℃,进行ZnO纳米棒的生长。生长90min-200min后,以小于10℃/min的降温速率降至室温。将样品从管式炉中取出,硅片表面的灰白色沉积物即为ZnO纳米棒阵列。
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