[发明专利]一种测量阿秒脉冲脉宽的方法无效
| 申请号： | 200810048523.8 | 申请日： | 2008-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN101334318A | 公开（公告）日： | 2008-12-31 |
| 发明（设计）人： | 陆培祥;兰鹏飞;王少义;李芳;杨振宇 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 | 代理人： | 曹葆青 |
| 地址： | 430074湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种测量阿秒脉冲脉宽的方法，包括以下步骤：1)将由激光和阿秒脉冲构成的合束光聚焦在稀有气体上，经过单光子电离形成包含阿秒脉冲信息的光电子信号；2)采集光电子信号，得到光电子谱；3)利用光电子谱和阿秒脉冲的关系公式对光电子谱进行分析，得到阿秒脉冲的脉宽。本发明建立光电子谱和阿秒脉冲之间的直接关系，通过测量光电子谱宽来获得阿秒脉冲的脉宽，该方案简化了测量方法，避免了大量拟合计算，测量结果精确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 脉冲 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测量阿秒脉冲脉宽的方法，包括以下步骤：(1)将由激光和阿秒脉冲构成的合束光聚焦于稀有气体，经过单光子电离形成包含阿秒脉冲信息的光电子信号；(2)采集光电子信号，得到光电子谱；(3)利用光电子谱和阿秒脉冲的关系公式对光电子谱进行分析，得到阿秒脉冲的脉宽；所述关系公式具体为：ΔE = 2 8 U p L 0 sin ( ω 0 τ x / 2 ) ≈ 8 U p L 0 ω 0 τ x , U p = eE 2 4 ω 0 2 ,
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