[发明专利]基于平板基片的辐射探测器无效

专利信息
申请号: 200810050503.4 申请日: 2008-03-18
公开(公告)号: CN101246053A 公开(公告)日: 2008-08-20
发明(设计)人: 王玉鹏;方伟;叶新;梁静秋 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20;G01J5/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 代理人: 王淑秋
地址: 130033吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于平板基片的辐射探测器;包括衬底,辐射吸收材料,热敏电阻,加热丝;所述的衬底选用高热导率、高绝缘性、低热容的材料;加热丝及热敏电阻分别接触固定于衬底的表面,辐射吸收材料位于加热丝上方,加热丝与辐射吸收材料中间用绝缘层隔离。本发明体积小、热容小;加热丝电阻大,引线电阻影响可忽略不计;热敏电阻灵敏度高,可探测的动态范围大,可以作为航天器上新型内置定标基准源,也可以应用于其它热辐射探测领域。
搜索关键词: 基于 平板 辐射 探测器
【主权项】:
1、一种基于平板基片的辐射探测器,包括辐射吸收材料,加热丝;其特征在于还包括衬底,热敏电阻;所述的衬底选用高热导率、高绝缘性、低热容的材料;加热丝及热敏电阻分别接触固定于衬底的表面,辐射吸收材料位于加热丝上方,加热丝与辐射吸收材料中间用绝缘层隔离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810050503.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top