[发明专利]光电流和光电压测量池

摘要

本发明的光电流和光电压测量池属于功能材料光电特性测量装置的技术领域。结构有池体(1)，其侧面与导气管(2)连通；在池体(1)和池盖(3)之间装有真空胶垫(6)；上电极(11)固定安装在池盖(3)中心的入光孔的下面并与高频插座(4)芯电极电连接，底电极(14)与高频插座(4)的外壳电连接；石英透镜(7)密封粘接在入光孔处；样品支架(10)下端有中心带孔的平板能使升降控杆(8)从孔中穿过、上端与底电极(14)固定相接，弹簧(9)安装在底电极(14)和样品支架(10)的平板之间。本发明装卸测试样品方便；能在真空下进行光电特性的测量；对被测样品无损伤、无污染，被测量的样品可回收。

主权项

1、一种光电流和光电压测量池，结构包括池体(1)、样品支架(10)、上电极(11)、底电极(14)，其特征在于，结构还包括池盖(3)、真空胶垫(6)、高频插座(4)、石英透镜(7)、升降控杆(8)、弹簧(9)；所述的池体(1)是底端封闭上端带有凸沿的筒状体，其侧面开孔与导气管(2)连通；池体(1)上端安装池盖(3)，在池体(1)上端和池盖(3)之间相接触的周边装有真空胶垫(6)，螺杆(5)穿过池盖(3)和池体(1)上端凸沿的一一相对的螺孔能压紧真空胶垫(6)，使池体(1)内的空间密封；所述的高频插座(4)密封装在池盖(3)上，上电极(11)固定安装在池盖(3)中心的通透圆孔的下面并与高频插座(4)芯电极电连接，底电极(14)通过池体(1)、池盖(3)与高频插座(4)的外壳电连接；所述的石英透镜(7)与池盖(3)中心的通透圆孔密封粘接；所述的样品支架(10)是竖直架，其上端固定装在池盖(3)的底面、下端有中心带孔的平板能使升降控杆(8)从孔中穿过；所述的升降控杆(8)，下端有尺度大于样品支架(10)下端平板中心孔孔径的手柄，上端与底电极(14)相接；所述的弹簧(9)是套在升降控杆(8)上安装在底电极(14)和样品支架(10)的平板之间。