[发明专利]取向硅钢[001]晶向偏离角α,β的测定方法有效
| 申请号： | 200810055801.2 | 申请日： | 2008-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN101216440B | 公开（公告）日： | 2010-11-10 |
| 发明（设计）人： | 方建锋;田志凌;浦玉萍;霍静;张晋远;郑毅 | 申请（专利权）人： | 北京钢研高纳科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01N13/00 |
| 代理公司： | 北京华谊知识产权代理有限公司 11207 | 代理人： | 范光前 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种取向硅钢[001]晶向偏离轧向的角α，β的测定方法，属于X射线检测技术领域。本发明提出了采用固定2θ角，进行ω扫描的非对称X射线衍射方法来测定取向硅钢易磁化方向[001]晶向取向分布的原理，以及针对取向硅钢板的具体情况采用叠片法对取向硅钢[001]晶向偏离角α、β角的测定方法(其中α为[001]晶向对轧向在轧面上的偏离角，β为[001]晶向对轧面的倾角)。该方法具有操作简单，测量速度快，测试结果有统计代表性，意义明确等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 取向 硅钢 001 偏离 测定 方法 | ||
【主权项】：
取向硅钢[001]晶向偏离角α、β的测定方法，晶向偏离角α是指[001]晶向在轧面内偏离轧向的角度，晶向偏离角β是指[001]取向对轧向的倾角，其特征是用X射线衍射仪对硅钢片试样进行非对称X射线衍射测定，首先在固定硅钢(002)晶面的衍射角2θ的基础上，进行ω扫描获得相应的衍射图谱，取得每一峰值所对应的ω角，再依据[001]晶向偏离角α或β与ω角的关系式α或β＝|ω-2θ/2|，相应确定出[001]晶向偏离角α或β。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京钢研高纳科技股份有限公司，未经北京钢研高纳科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810055801.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
