[发明专利]谷物颗粒硬度测定方法及其硬度测定仪有效

专利信息
申请号: 200810056345.3 申请日: 2008-01-17
公开(公告)号: CN101487782A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: 郝伟 申请(专利权)人: 北京东孚久恒仪器技术有限公司
主分类号: G01N3/42 分类号: G01N3/42;G01N15/10
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 赵燕力
地址: 100037北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明为一种谷物颗粒硬度测定仪,所述硬度测定仪包括一基座,所述基座上设有一第一轧辊;一支撑座设置在所述基座上,所述支撑座上与第一轧辊相对位置设置一第二轧辊,两轧辊相向转动,且两轧辊之间具有一间隙;所述基座与支撑座之间至少设有一力传感器。本发明的谷物颗粒硬度测定仪,由于两轧辊是连续相向转动的,在两轧辊之间可以连续进行多个单颗谷物颗粒的硬度测定,即通过喂料装置可依次将多个单颗谷物颗粒送入第一轧辊与第二轧辊之间的间隙,使谷物群体颗粒的检测过程实现连续进行,可进行谷物颗粒大批量快速测定,克服了现有颗粒硬度计在谷物群体颗粒硬度判定方面的不足。
搜索关键词: 谷物 颗粒 硬度 测定 方法 及其
【主权项】:
1、一种谷物颗粒硬度测定方法,其特征在于:在两个具有一定间距平行设置且相向转动的轧辊之间置入谷物颗粒,由两轧辊对谷物颗粒进行碾压,通过力传感器感应其中至少一个轧辊所受的反作用力,以此计算出谷物颗粒的硬度值。
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