[发明专利]过程校验仪及其设计方法

摘要

本发明公开了一种过程校验仪及其设计方法。它由输入通道、输出通道、基准电压、恒流源、控制、键盘、显示、通信和存储单元组成。过程校验仪输入、输出通道具有不同的设计精度，输入通道按高精度指标设计，并用超高精度的过程认证校正设备标定，建立标定基准表；输出通道则按降级精度指标设计，输出通道按降级精度指标设计有助于降低过程校验仪成本，提高成品率，而输出通道的精度则借助高精度输入通道和标定基准表，采用实时闭环反馈校正技术加以提升，使过程校验仪具有高性价比和高精度。基准融合的自校正技术，有效克服了过程校验仪测量通道因时间漂移、温度漂移等因素导致的不确定性，确保过程校验仪具有长期的高精度和高稳定性。

主权项

1.一种过程校验仪，其特征在于过程校验仪包括微处理器、LCD显示器、存储器、通信接口、键盘、测量/输出选择模块、参数类型选择模块、电压基准模块、恒流源模块、输入通道ADC模块、输出通道DAC模块、输出通道至输入通道反馈模块，微处理器分别与LCD显示器、存储器、通信接口、键盘、输入通道ADC模块、输出通道DAC模块相连接，输出通道DAC模块分别与参数类型选择模块、恒流源模块、输出通道至输入通道反馈模块相连接，输入通道ADC模块分别与参数类型选择模块、电压基准模块、恒流源模块、输出通道至输入通道反馈模块相连接，参数类型选择模块与测量/输出选择模块相连接。