[发明专利]光子晶体光纤折射率温度传感器及测量系统无效
| 申请号： | 200810065175.5 | 申请日： | 2008-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN101216354A | 公开（公告）日： | 2008-07-09 |
| 发明（设计）人： | 李学金 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01K11/32 | 分类号： | G01K11/32;G02B6/02 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 | 代理人： | 胡吉科 |
| 地址： | 518055广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光子晶体光纤折射率温度传感器测量系统，其包括光源，光子晶体光纤折射率温度传感器以及光功率计，所述的光源发出的光耦合到该光子晶体光纤折射率温度传感器中，该光子晶体光纤折射率温度传感器对光线进行折射，该光功率计测量该光子晶体光纤折射率温度传感器中的出光的光强，通过光子晶体光纤折射率温度传感器的光强变化来测量温度。该光子晶体光纤折射率温度传感器测量是在光子晶体光纤中通过填充折射率温度敏感的介质，当温度变化时光子晶体光纤中光场强度分布发生变化，引起光的传输损耗变化，通过光纤输出的光功率的改变来测量温度，大大提高了光子晶体光纤折射率温度传感器的灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 晶体 光纤 折射率 温度传感器 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种光子晶体光纤折射率温度传感器，其特征在于：其包括纤芯以及在纤芯周围沿着轴向排列微小气孔，该微小气孔中的填充有折射率温度敏感物质。
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