[发明专利]生成码率兼容LDPC码及HARQ方案的方法及装置有效
| 申请号： | 200810066938.8 | 申请日： | 2008-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN101572554A | 公开（公告）日： | 2009-11-04 |
| 发明（设计）人： | 金莹;张晓辉 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H03M13/11 | 分类号： | H03M13/11;H03M13/27;H04L1/18 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及移动通信的信道编码技术领域，特别涉及一种生成码率兼容准循环LDPC码方法及装置。所述方法包括：获得系统的低码率要求和高码率准循环LDPC码的度分布，设计低码率准循环LDPC码的度分布；确定构造低码率准循环LDPC码的过程中高码率准循环LDPC码中需要分解的校验节点和需要扩展的变量节点；基于构造方法和低码率准循环LDPC码对校验矩阵校验部分结构的限制，构造低码率准循环LDPC码的校验矩阵；并对获得的准循环LDPC码的校验比特进行交织，然后通过删余获得码率兼容码。实施例还提供了实施该方法的装置。并提出了基于所述码率兼容准循环LDPC码的HARQ方案。 | ||
| 搜索关键词： | 生成 兼容 ldpc harq 方案 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种生成准循环低密度一致校验码的方法，其特征在于，所述方法包括：获得系统的低码率要求和高码率准循环低密度一致校验码的度分布，设计低码率准循环低密度一致校验码的度分布；根据所述的低码率准循环低密度一致校验码的度分布和高码率准循环低密度一致校验码的度分布，确定构造低码率准循环低密度一致校验码基校验矩阵的过程中高码率准循环低密度一致校验码中需要分解的校验节点和需要扩展的变量节点；基于构造方法和低码率准循环低密度一致校验码对二元基校验矩阵校验部分结构的限制，构造低码率准循环低密度一致校验码的基校验矩阵。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司，未经华为技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810066938.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：油井用油管带压作业保护器
- 下一篇：带斜向配筋过渡层变厚度剪力墙
- 同类专利
- 专利分类
