[发明专利]高功率射频模块动态阻抗的一种测量方法及其测量装置无效
| 申请号： | 200810067630.5 | 申请日： | 2008-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN101598751A | 公开（公告）日： | 2009-12-09 |
| 发明（设计）人： | 邓顶阳;陈志辉 | 申请（专利权）人： | 优仪半导体设备(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 深圳市千纳专利代理有限公司 | 代理人： | 胡清方 |
| 地址： | 518000广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 高功率射频模块动态阻抗的一种测量方法，包括如下步骤：将衰减装置、带通滤波器及网络分析仪依次串联；将网络分析仪设置成最小IFBW和最大输出功率的工作模式；对网络分析仪进行校准；将待测设备与衰减器串联，并将待测设备工作在欲测试频点附近的频点；将网络分析仪设定在测试频点，测量待测设备在测试频点时的动态阻态，并读出结果。其测量装置包括衰减装置、带通滤波器及网络分析仪，所述衰减器、带通滤波器及网络分析仪依次串联。本发明具有可以测量射频功率输出设备的动态阻抗的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 功率 射频 模块 动态 阻抗 一种 测量方法 及其 测量 装置 | ||
【主权项】：
1、高功率射频模块动态阻抗的一种测量方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)、将衰减装置、带通滤波器及网络分析仪依次串联；(2)、将网络分析仪设置成最小IFBW和最大输出功率的工作模式；(3)、对网络分析仪进行校准；(4)、将待测设备与衰减器串联，并将待测设备工作在欲测试频点附近的频点；(5)、将网络分析仪设定在测试频点，测量待测设备在测试频点时的动态阻态，并读出结果。
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