[发明专利]ZnO:Bi光电薄膜及其制备方法无效
申请号: | 200810073409.0 | 申请日: | 2008-01-07 |
公开(公告)号: | CN101280414A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 江民红;刘心宇 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/35;H01B5/14;G02B1/10 |
代理公司: | 桂林市华杰专利事务所有限责任公司 | 代理人: | 孙伊滨 |
地址: | 541004广西壮族自*** | 国省代码: | 广西;45 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种ZnO:Bi光电薄膜及其制备方法,它以分析纯Bi2O3粉末作为掺杂原料,纯度为99.95%的纳米氧化锌为主体材料组成,Bi2O3的掺入量为总重量的1-5%,配料经360-720分钟球磨混合、在30-60MPa的压强下压制3-15分钟成型,在空气中1200-1400℃下常压、保温烧结60-360分钟,制备得ZnO:Bi陶瓷靶材,在本底真空度为8.0×10-5Pa、充纯氩后的气体压强为1-3Pa的条件下,经射频磁控溅射制膜,再在真空度≤0.1Pa的真空环境中退火热处理制成,表达式为ZnO:Bi,各组分原料用量重量比为ZnO 95-99%,Bi2O3 1-5%。这种光电薄膜具有良好的光电性能,电阻率达9.0×10-4Ω·cm,可见光透过率达85%以上,在波长小于370nm的紫外波段透过率表现为截止状态,具有良好的紫外隐身效果,同时所采用的原料纯度低,且工艺简单、成本较低。 | ||
搜索关键词: | zno bi 光电 薄膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种ZnO:Bi光电薄膜,其特征是:它以Bi2O3作为掺杂原料,氧化锌为主体材料组成,Bi2O3的掺入量为总重量的1-5%,经配料、球磨混合、压制成型、高温烧制成陶瓷靶材后,在本底真空度为8.0×10-5Pa、充纯氩后的气体压强为1-3Pa的条件下,经射频磁控溅射制膜,再在真空度<0.1Pa的真空环境中退火热处理制成,表达式为ZnO:Bi,各组分原料用量重量比为ZnO 95-99%,Bi2O3 1-5%。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桂林电子科技大学,未经桂林电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810073409.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类