[发明专利]一种利用双视角多能量透射图像进行材料识别的方法及系统有效
| 申请号： | 200810081325.1 | 申请日： | 2008-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN101358936A | 公开（公告）日： | 2009-02-04 |
| 发明（设计）人： | 谢亚丽;苗齐田;彭华;康克军;胡海峰;陈志强;曹学光;唐传祥;顾建平;王学武;温宏胜;何蓓;刘耀红;孙尚民;宋全伟;林津;丁先利 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 100084北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用双视角多能量透射图像进行材料识别的方法及系统。根据本发明，可以实现对于在射线束方向上重叠的物体，剥离其中占射线吸收的主要成分的遮挡物，使原本因占射线吸收的次要成分所以不明显的物体变得明显，并且可以识别其材料属性：如有机物、混合物、金属等)。根据本发明的方法可以对射线方向上非主要成份进行材料识别，这为自动识别集装箱内藏有的爆炸物品、毒品等其它有害物体奠定了基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 视角 多能 透射 图像 进行 材料 识别 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种利用双视角多能量透射图像进行材料识别及成像方法，包括如下步骤：1)使两条成一定夹角的X射线经过被检物体，从而获得左右透射图像数据，对所述左、右透射图像进行分割，对所述分割的结果进行匹配；2)建成透射图在深度方向上的断层图；3)对任意一种能量的透射图像重复上述过程，得到任意一种能量在各层的断层图；4)将处于同一位置的不同能量的断层图合并，得到预定种能量中所有能量的各层的断层图；5)对断层中灰度重构成功的物体进行材料识别。
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