[发明专利]一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法有效
| 申请号： | 200810081873.4 | 申请日： | 2008-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN101363713A | 公开（公告）日： | 2009-02-11 |
| 发明（设计）人： | 张广军;孙军华;刘谦哲;魏振忠 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵军 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法，该方法包括：建立摄像机坐标系、图像平面坐标系；建立靶标坐标系，获取用于标定传感器结构参数的平面靶标图像，并获取结构光投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标；获取结构光多次投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标，再根据获得的所有光条点坐标拟合结构光方程。本发明采用二维交比不变的方法，使得在平面靶标的每个位置上可以获取任意数量的标定点，且标定的结构光可以为任意模式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 二维 不变 结构 传感器 参数 标定 方法 | ||
【主权项】：
1、一种基于二维交比不变的结构光传感器结构参数标定方法，其特征在于，该方法包括：a、建立摄像机坐标系、图像平面坐标系；b、建立靶标坐标系，获取用于标定传感器结构参数的平面靶标图像，并获取结构光投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标；c、获取结构光多次投射在靶标平面上的光条的多个光条点在摄像机坐标系下的坐标，根据获得的所有光条点坐标拟合结构光方程。
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