[发明专利]确定或匹配用于磁场均匀化的填隙片的方法及磁共振设备有效

专利信息
申请号: 200810082007.7 申请日: 2008-02-26
公开(公告)号: CN101256224A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 安德鲁·杜德尼;弗朗兹·施米特 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/387 分类号: G01R33/387;G01R33/565;A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于确定或匹配使磁共振设备(1)的为产生特定检查区域的磁共振图像的磁场均匀化的填隙片的方法,具有步骤:借助计算装置(5)自动地和/或通过操作者在该计算装置(5)的图像输出装置(7)上的支持,通过从一个任意的、不限定于特定形状的形状组中选出可选的立体,和/或通过产生一个任意的、不限定于特定形状的三维立体(a,b),来确定与确定或匹配填隙片相关的、并在检查区域上和/或与检查规程调谐的三维立体;以及由计算装置(5)对于该确定的三维立体(c)来计算填隙片。
搜索关键词: 确定 匹配 用于 磁场 均匀 填隙 方法 磁共振 设备
【主权项】:
1.一种用于确定或匹配使磁共振设备(1)的为产生特定检查区域的磁共振图像的磁场均匀化的填隙片的方法,具有以下步骤:借助计算装置(5)自动地和/或通过操作者在该计算装置(5)的图像输出装置(7)上的支持,通过从一个任意的、不限定于特定形状的形状组中选出可选的立体,和/或通过产生一个任意的、不限定于特定形状的三维立体(a,b),来确定与确定或匹配填隙片相关的、并在检查区域上和/或与检查规程调谐的三维立体;以及由计算装置(5)对于该确定的三维立体(c)来计算填隙片。
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