[发明专利]透镜测量仪有效

专利信息
申请号: 200810082032.5 申请日: 2008-02-28
公开(公告)号: CN101256114A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 梶野正 申请(专利权)人: 株式会社尼德克
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 高青
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 能够高度稳定和精确地获取透镜的光学特性的透镜测量仪具有:测量光学系统,该测量光学系统包括具有测量目标的目标面板和光电接收测量光束的光电检测器,该测量目标具有第一测量目标和第二测量目标;计算光学特性的计算装置,该计算装置包括根据光电检测器对第一测量目标的检测结果来计算第一光学特性的第一计算装置、和根据第一和第二测量目标的检测结果来计算第二光学特性的第二计算装置;以及显示控制装置,如果第一计算装置的计算结果或光电检测器的检测结果满足预定条件,则显示第二光学特性作为透镜的光学特性,以及如果未满足预定条件,则显示第一光学特性。
搜索关键词: 透镜 测量仪
【主权项】:
1.一种测量透镜的光学特性的透镜测量仪,包含:测量光学系统,包括:具有以预定图案围绕测量光轴布置的多个测量目标的目标面板,所述测量目标至少具有在测量光轴附近的第一区域内的第一测量目标、和在第一区域之外的第二区域内的第二测量目标;和光电接收穿过透镜的测量光束的光电检测器;计算光学特性的计算装置,包括:第一计算装置,根据光电检测器对第一测量目标的检测结果来计算透镜的第一光学特性;和第二计算装置,根据第一测量目标的检测结果和第二测量目标的检测结果来计算透镜的第二光学特性;以及显示控制装置,如果第一计算装置的计算结果和光电检测器的检测结果之一满足预定条件,则显示第二光学特性作为透镜的光学特性,以及如果未满足所述预定条件,则显示第一光学特性作为透镜的光学特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社尼德克,未经株式会社尼德克许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810082032.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top