[发明专利]三维测量探测装置及方法无效

专利信息
申请号: 200810084585.4 申请日: 2008-04-09
公开(公告)号: CN101556143A 公开(公告)日: 2009-10-14
发明(设计)人: 陶立;凯文·G·哈丁;胡庆英;宋桂菊;郑建明;克拉克·A·本多尔;托马斯·卡本;贾明 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/25
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 马高平
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及一种探测装置及方法。该探测装置包括光源、光栅、可动的透明板、光纤传像束、成像装置及处理单元。光源可产生光线。光线穿过光栅可产生光栅图案。可动的透明板可把光栅图案转变为多个相移条纹图案。光纤传像束可把相移条纹图案投影到一个物体表面上而产生投影后的条纹图案。成像装置用来获得投影后的条纹图案的图像。处理单元可利用获得的图像对物体表面进行重建。
搜索关键词: 三维 测量 探测 装置 方法
【主权项】:
1.一种探测装置,包括:光源,其可产生光线;光栅,所述光线穿过该光栅可产生光栅图案;可动的透明板,其可把所述光栅图案转变为多个相移条纹图案;光纤传像束,其可把所述多个相移条纹图案投影到一个物体表面上而产生投影后的条纹图案;成像装置,其可获得投影后的条纹图案的图像;及处理单元,其可利用所述获得的图像来重建所述物体表面。
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