[发明专利]试样分析仪及试样分析方法无效
申请号: | 200810084892.2 | 申请日: | 2008-03-28 |
公开(公告)号: | CN101275962A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | 芝田正治;吉田敬祥 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/10;G01N33/48 |
代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁朝玉;刘良勇 |
地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种试样分析仪,包括:储样器,用于储存从标本容器吸移的试样;制样器;用于从储存在上述储样器中的试样制备数份测定用试样;测定装置,依次测定上述制样器制备的数份测定用试样,对各测定用试样获取测定数据;分析结果获取装置,根据上述测定装置测得的数个测定数据,取得试样的一定项目的分析结果。本发明还提供一种试样分析方法。 | ||
搜索关键词: | 试样 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种试样分析仪,包括:储样器,用于储存从标本容器吸移的试样;制样器,用于从储存在上述储样器中的试样制备数份测定用试样;测定装置,依次测定上述制样器制备的数份测定用试样,就各测定用试样获取测定数据;分析结果获取装置,根据上述测定装置测得的数个测定数据,取得试样的所定项目的分析结果。
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