[发明专利]集成电路测试线产生方法与系统无效
| 申请号： | 200810086695.4 | 申请日： | 2008-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN101286184A | 公开（公告）日： | 2008-10-15 |
| 发明（设计）人： | 罗增锦;李国财;吴显扬 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G01R31/28 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈晨;吴世华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提出一种以网络为基础的集成电路测试线产生方法与系统。此系统包括用以产生并传送一请求的使用者界面以及用以自使用者界面接收请求的一测试线产生器，其中上述请求详细指明测试线所需的配置，测试线产生器根据请求产生包括测试线所需的信息的一布局数据库。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 产生 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种形成多条集成电路测试线的方法，包括：将多个测试线信息读取至一使用者界面；由上述使用者界面产生一请求；传送上述请求至一测试线产生器；以及由上述测试线产生器产生一数据库，其中上述数据库包括上述集成电路测试线的布局信息。
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