[发明专利]光存储介质记录读取装置和跟踪控制方法无效
申请号: | 200810087029.2 | 申请日: | 2008-03-28 |
公开(公告)号: | CN101276611A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | 长谷川裕;小堀博道 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 | 代理人: | 徐申民;张惠萍 |
地址: | 日本国东京*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种光存储介质记录读取装置,在不至于使装置结构复杂的情况下进行准确的跟踪伺服,来进行正确的信息记录读取。光盘装置中,跟踪控制部(107)具有限幅电路(304),该限幅电路(304)在对包括与第2信息记录层的信息尚未记录区域相对的第1信息记录层的区域和与第2信息记录层的已记录信息区域相对的第1信息记录层的区域的第1信息记录层进行信息记录读取的情况下校正第1跟踪误差信号,根据经过校正的第1跟踪误差信号和第2跟踪误差信号进行跟踪控制。 | ||
搜索关键词: | 存储 介质 记录 读取 装置 跟踪 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光存储介质记录读取装置,对至少具有第1信息记录层和第2信息记录层的光存储介质进行信息记录和读取,其特征在于,包括:出射光束的光源;将所述光源出射的所述光束至少分割成第1光束和第2光束的衍射光学元件;使所述衍射光学元件所分割成的所述第1光束和所述第2光束聚光于具有多层信息记录层的光存储介质的聚光部;使所述聚光部移动的驱动部;对所述第1光束从所述光存储介质反射的第1反射光束和所述第2光束从所述光存储介质反射的第2反射光束进行检测的光检测器;根据从经过所述光检测器检测的所述第1反射光束得到的第1跟踪误差信号和从经过所述光检测器检测的所述第2反射光束得到的第2跟踪误差信号驱动所述驱动部,进行跟踪控制的跟踪控制部;以及对包括与所述第2信息记录层的信息尚未记录区域相对的所述第1信息记录层的区域和与所述第2信息记录层的已记录信息区域相对的所述第1信息记录层的区域的所述第1信息记录层进行信息记录读取的情况下,校正所述第1跟踪误差信号的校正部,所述跟踪控制部根据经过校正的第1跟踪误差信号和所述第2跟踪误差信号进行跟踪控制。
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