[发明专利]羟基氧化铁粒子的制造方法无效
申请号: | 200810087437.8 | 申请日: | 2008-03-27 |
公开(公告)号: | CN101274781A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | 河濑美香;佐藤守 | 申请(专利权)人: | TDK株式会社 |
主分类号: | C01G49/16 | 分类号: | C01G49/16 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陈建全 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明目的在于提供微细的、具体来说具有75nm以下的平均长轴长、且轴比大、具体来说轴比在3以上、粒度分布窄的羟基氧化铁粒子。首先,将亚铁盐水溶液和含有选自碳酸碱和氢氧化碱中的1种或2种的碱性水溶液进行混合,得到含有亚铁的悬浊液。之后,将得到的悬浊液控制在-5℃以上但小于10℃的温度范围内并向悬浊液中吹入氧成分比为0.5~0.8的含氧气体,从而将悬浊液中的亚铁以30~65%的氧化率进行氧化,得到羟基氧化铁粒子前体。之后,将含有羟基氧化铁粒子前体的悬浊液控制在20℃以上但小于45℃的温度范围内并向悬浊液中吹入含氧气体,从而由羟基氧化铁粒子前体生成羟基氧化铁粒子(2)。 | ||
搜索关键词: | 羟基 氧化铁 粒子 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.羟基氧化铁粒子的制造方法,其特征在于,该方法包括:工序A,将亚铁盐水溶液和含有选自碳酸碱和氢氧化碱中的1种或2种的碱性水溶液进行混合,从而得到含有亚铁的悬浊液;工序B,将所述工序A中得到的所述悬浊液控制在-5℃以上但小于10℃的温度范围内,并向所述悬浊液中吹入氧成分比为0.5~0.8的含氧气体,从而将所述悬浊液中的所述亚铁以30~65%的氧化率进行氧化,得到羟基氧化铁粒子前体;工序C,在所述工序B之后,将含有所述羟基氧化铁粒子前体的所述悬浊液控制在20℃以上但小于45℃的温度范围内,并向所述悬浊液内吹入含氧气体,从而由所述羟基氧化铁粒子前体生成羟基氧化铁粒子。
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