[发明专利]信息处理设备和测量冷却性能及检测冷却性能恶化的方法

摘要

本发明涉及一种信息处理设备和测量冷却性能及检测冷却性能恶化的方法。本发明中，一种信息处理设备包括一个空闲状态寄存器(208A)，用于存储系统的电力消耗P_Idle的信息V_Idle和I_Idle，以及由温度读取单元(207)读取的温度T_Idle；应激状态寄存器(208B)，用于在CPU(111)上进行负载后，被存储电力消耗P_Stress的信息V_Stress和I_Stress以及温度T_Stress；冷却性能值计算单元(208)，用于根据电力消耗P_Idle、温度T_Idle和电力消耗P_Stress、温度T_Stress来计算冷却性能ΔT；判定所计算的冷却性能ΔT是否低于设置值的判断单元(210)；报告系统的主单元的冷却性能ΔT已经恶化的报告单元(212)。

主权项

1.一种信息处理设备，其特征在于，包括：系统主单元；处理器，其被设置在所述系统主单元中；冷却系统，其被设置在所述系统主单元中，并包括冷却所述处理器的冷却单元；冷却控制单元，其被设置在所述系统主单元中，并被构成为控制所述冷却系统的冷却性能；电力消耗读取单元，其被设置在所述系统主单元中，并被构成为读取对应于所述系统主单元的电力消耗的信息；温度读取单元，其被设置在所述系统主单元中，并被构成为读取所述处理器的温度；条件判断单元，其被设置在所述系统主单元中，并被构成为判定所述系统主单元是否满足用于检测冷却性能值的条件；第一存储单元，其被构成为当判定所述系统主单元满足所述条件时，存储对应于所述电力消耗读取单元所读取的电力消耗P1的信息P’1、以及被所述温度读取单元读取的温度T1；负载单元，其被构成为在所述信息P’1和所述温度T1被存储到所述第一存储单元后，将负载施加到所述处理器上；第二存储单元，在所述负载被施加后，存储对应于所述电力消耗读取单元所读取的电力消耗P2的信息P’2、以及被所述温度读取单元读取的温度T2。计算单元，根据对应于存储在所述第一存储单元中的P’1的电力消耗P1和温度T1、以及对应于存储在所述第二存储单元中的的信息P’2的电力消耗P2和温度T2计算冷却性能ΔT。冷却性能判断单元，其被构成为判断所述计算的冷却性能ΔT是否低于设置值；报告单元，其被构成为当所述冷却性能值高于设置值时，报告所述系统主单元的冷却性能已经恶化。