[发明专利]检测坏像素的方法和装置以及捕获图像的方法和装置有效
| 申请号： | 200810088410.0 | 申请日： | 2008-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN101277385A | 公开（公告）日： | 2008-10-01 |
| 发明（设计）人： | 辛成基;金在锡;金东郁;李炯汉;李元宰;安志勋 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/217 | 分类号： | H04N5/217;H04N17/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 钱大勇 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种检测在具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中的坏像素的方法和装置、以及一种从图像传感器中捕获图像以检测图像传感器中的坏像素的方法和装置。感测图像帧的场景变化，以及如果感测到场景变化，则执行检测像素阵列中的坏像素的检测操作。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 像素 方法 装置 以及 捕获 图像 | ||
【主权项】：
1.一种检测在具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中的坏像素的方法，所述方法包括：感测第一和第二图像帧集合之间的场景变化，每个图像帧集合包括所述多个图像帧的至少一个；以及如果感测到所述场景变化，则检测在所述像素阵列中是否存在坏像素。
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