[发明专利]用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法与系统有效

专利信息
申请号: 200810091700.0 申请日: 2008-04-14
公开(公告)号: CN101286327A 公开(公告)日: 2008-10-15
发明(设计)人: 辛国鼎;蔡明宪 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统及方法,其中光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质。该系统包含有:循轨伺服回路,是安排来控制光学存储装置的光学读取头的循轨操作;循轨偏移控制回路,是安排来控制循轨伺服回路的记录循轨偏移;控制器,是安排来使能记录循轨偏移的最新值作为读出值,来以供后续进行的记录程序所利用;以及比较器,是安排来比较记录长度与阈值,并产生旗标来代表记录长度是否为长记录长度。其中最新值取得自循轨偏移控制回路。本发明所提供的方法及系统,能够控制自光学读取头发射的激光光点在轨道中央,避免了因循轨不当而使数据受破坏。
搜索关键词: 用来 校准 光学 存储 装置 记录 偏移 方法 系统
【主权项】:
1.一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统,其特征在于,该光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质,该系统包含有:循轨伺服回路,是安排来控制所述的光学存储装置的光学读取头的循轨操作;循轨偏移控制回路,是安排来控制所述的循轨伺服回路的记录循轨偏移;控制器,是安排来使能所述的记录循轨偏移的最新值作为读出值,以供后续进行的记录程序所利用,其中所述的最新值取得自所述的循轨偏移控制回路;以及比较器,是安排来比较记录长度与阈值,并产生旗标来代表该记录长度是否为长记录长度。
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