[发明专利]多仿真精度可切换的测试方法和装置有效
| 申请号： | 200810091879.X | 申请日： | 2008-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN101551827A | 公开（公告）日： | 2009-10-07 |
| 发明（设计）人： | 高海英;沈梓荣 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 尚志峰;吴孟秋 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种多仿真精度可切换的测试方法和装置，方法包括如下步骤：创建包含多个仿真精度功能块模型的测试系统；在仿真过程中测试系统切换到多个仿真精度功能块模型中的适合仿真过程当前场景的仿真精度功能块模型；以及使用所切换的仿真精度功能块模型执行仿真测试。本发明实现了ASIC设计前后端测试平台的统一，并且提高了测试自动化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 仿真 精度 切换 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种多仿真精度可切换的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：创建包含多个仿真精度功能块模型的测试系统；在仿真过程中所述测试系统切换到所述多个仿真精度功能块模型中的适合仿真过程当前场景的仿真精度功能块模型；以及使用所切换的仿真精度功能块模型执行仿真测试。
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