[发明专利]用于与磁化率相关的磁场畸变的检测和成像的磁共振方法有效

专利信息
申请号: 200810094626.8 申请日: 2008-04-24
公开(公告)号: CN101299061A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 奥利弗·比厄里;克劳斯·舍费尔 申请(专利权)人: 巴塞尔大学
主分类号: G01R33/565 分类号: G01R33/565
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 章社杲;李丙林
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明提供了一种用于与磁化率相关的磁场畸变的检测和成像的磁共振方法。本发明还涉及用于产生与磁化率相关的对比度图像的方法和装置,该图像例如是由用于被动MR导引介入的标记材料介入装置所引发,或是由装载了标记材料、用于分子成像、细胞示踪或细胞标记的颗粒或细胞所引发。在一个局部磁场干扰物附近,从局部梯度补偿发出一个阳性对比度信号,以便形成例如一个平衡的SSFP型回波,然而在其他各处的回波被移出数据采集窗口。
搜索关键词: 用于 磁化率 相关 磁场 畸变 检测 成像 磁共振 方法
【主权项】:
1.一种磁共振成像(MRI)方法,包括:提供一种非平衡稳态自由进动(SSFP)协议,其中自旋被去定相,使得在一幅MRI图像中抑制了一个或多个信号,使具有磁化率的材料经受所述的非平衡SSFP协议,其中所述材料造成一种局部的磁场畸变,该磁场畸变产生局部场梯度,其中所述的局部场梯度局部地补偿所述去定相的自旋,使得所述去定相的自旋被重新定相以便提供一个局部信号。
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