[发明专利]测试仪表控制系统及方法、仪表控制装置有效

专利信息
申请号: 200810094692.5 申请日: 2008-05-07
公开(公告)号: CN101286050A 公开(公告)日: 2008-10-15
发明(设计)人: 崔文会 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G05B19/04 分类号: G05B19/04;G01R31/3177;G01R31/00
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 程殿军;张颖玲
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种测试仪表控制系统,该系统包括主控制模块、测试处理模块、仪表控制模块和数据库,主控制模块用于根据测试模板调用相应的测试处理模块,测试处理模块向仪表控制模块发送测试消息,仪表控制模块根据测试消息调用相应的仪表进行测试,数据库用于存储测试模板、仪表信息、控制消息。本发明还公开了相应方法,根据用户选择的测试模板、仪表参数,激活相应仪表,测试待测对象。本发明还公开了一种仪表控制装置,能够与用户交互,对仪表进行配置,检测仪表状态。本发明具有简单方便、兼容性强的优点。
搜索关键词: 测试 仪表 控制系统 方法 控制 装置
【主权项】:
1、一种测试仪表控制系统,其特征在于,该系统包括主控制模块,仪表控制模块,至少一个测试处理模块,和用于存储测试模板、仪表信息、测试消息的数据库,所述主控制模块分别与所述测试处理模块、仪表控制模块和数据库连接,所述仪表控制模块分别与数据库、测试处理模块相连;其中,所述主控制模块从数据库中读取用户选择的测试模板,将解析出仪表信息、接收的用户设置的仪表参数发送给仪表控制模块;所述仪表控制模块根据所述仪表信息,激活并根据所述仪表参数配置相应仪表,并将仪表配置结果反馈给所述主控制模块;所述主控制模板根据仪表配置结果,向相应的测试处理模块发送测试命令;所述测试处理模块根据所述测试命令,向所述仪表控制模块发送测试消息;所述仪表控制模块根据所述测试消息,调用相应仪表测试待测对象,并将测试结果经所述测试处理模块反馈给所述主控制模块。
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