[发明专利]测试装置有效
申请号: | 200810096921.7 | 申请日: | 2008-05-07 |
公开(公告)号: | CN101576603A | 公开(公告)日: | 2009-11-11 |
发明(设计)人: | 蔡竹青;许家荣 | 申请(专利权)人: | 环隆电气股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿 宁;张华辉 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种测试装置,适于测试不同种类的多个待测板。此测试装置包括一可编程测试平台以及一储存单元。可编程测试平台包括一可编程系统芯片、一存储单元与一输入/输出单元,其中存储单元是电性连接至可编程系统芯片,且存储单元内存有一作业系统。输入/输出单元是电性连接至可编程系统芯片、待测板其中之一以及储存单元。输入/输出单元适于根据一输入动作产生一启动信号,而可编程系统芯片适于根据启动信号来选取一预设的测试流程,并依预设的测试流程对电性连接至输入/输出单元的待测板进行测试。储存单元是用以储存可编程系统芯片所输出的一测试结果。本发明测试装置能够降低测试成本,且能减少测试时间。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种测试装置,适于测试不同种类的多个待测板,其特征在于该测试装置包括:一可编程测试平台,包括:一可编程系统芯片;一存储单元,电性连接至该可编程系统芯片,该存储单元内存有一作业系统;一输入/输出单元,电性连接至该可编程系统芯片与该些待测板其中之一,其中该输入/输出单元适于根据一输入动作产生一启动信号,而该可编程系统芯片适于根据该启动信号来选取一预设的测试流程,并依该预设的测试流程对电性连接至该输入/输出单元的该待测板进行测试;以及一储存单元,电性连接至该输入/输出单元,以储存该可编程系统芯片所输出的一测试结果。
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