[发明专利]防止硅通孔与集成电路之间串音的结构无效
申请号: | 200810096975.3 | 申请日: | 2008-05-12 |
公开(公告)号: | CN101447479A | 公开(公告)日: | 2009-06-03 |
发明(设计)人: | 郭正铮 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/00;H01L23/552 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿 宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明是有关于一种半导体芯片,其包括硅通孔、元件区、及围设于元件区与硅通孔之一的防串音环。硅通孔实质上是藉由防串音环与所有包含多个主动元件的多个元件区隔离,其可防止硅通孔与集成电路之间串音。 | ||
搜索关键词: | 防止 硅通孔 集成电路 之间 串音 结构 | ||
【主权项】:
1、一种半导体芯片,其特征在于其至少包含:一硅通孔;一元件区;以及一防串音环围设于该元件区与该硅通孔之一,其中该硅通孔实质上是藉由该防串音环与所有包含多个主动元件的多个元件区隔离。
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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