[发明专利]像素结构与其中的晶体管及其制造方法有效
申请号: | 200810099952.8 | 申请日: | 2008-05-29 |
公开(公告)号: | CN101286482A | 公开(公告)日: | 2008-10-15 |
发明(设计)人: | 游伟盛;陈建宏 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/768;H01L21/336;H01L27/12;H01L23/522;H01L29/786;G02F1/1368 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 潘培坤 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种像素结构与其中的晶体管以及其制造方法,该方法至少包括:沉积第一导体层、绝缘层、第一半导体层、接触层并进行第一道掩模工艺,以形成晶体管区、扫描配线区、数据配线区、交错区以及像素电极区;进行第二道掩模工艺,使扫描配线区中的第一导体层至少部分暴露于外。在晶体管区、扫描配线区、数据配线区、交错区以及像素电极区之上依序沉积透明导电层以及第二导体层,其中第二导体层位于透明导电层之上。接着,进行第三道掩模工艺,使晶体管区形成晶体管的栅极、栅极绝缘层、通道层、欧姆接触层以及源极/漏极,其中通道层部分暴露于外。 | ||
搜索关键词: | 像素 结构 与其 中的 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种像素结构的制造方法,包括:提供一基板,该基板具有一晶体管区、一扫瞄配线区、一数据配线区、一交错区以及一像素电极区;在该基板上依序沉积一第一导体层、一绝缘层、一第一半导体层以及一接触层以构成一堆栈沉积层;进行第一道掩模工艺,以图案化该堆栈沉积层,以形成多个堆栈沉积层,所述多个堆栈沉积层分别对应于该基板上的该晶体管区、该扫瞄配线区、该数据配线区、该交错区以及该像素电极区;在该晶体管区、该扫瞄配线区、该数据配线区、该交错区以及该像素电极区上沉积一保护层;进行第二道掩模工艺,以图案化该保护层及所述堆栈沉积层,使该扫瞄配线区中的该第一导体层部分暴露于外;移除部分该保护层;在该晶体管区、该扫瞄配线区、该数据配线区、该交错区以及该像素电极区之上依序沉积一透明导电层以及一第二导体层,其中该第二导体层位于该透明导电层之上;以及进行第三道掩模工艺,在该晶体管区形成一晶体管,其中该晶体管包括一栅极、一栅极绝缘层、一通道层、一欧姆接触层以及一源极/漏极,其中该通道层部分暴露于外。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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