[发明专利]单细胞行波介电谱的高通量测试芯片及测试方法有效
| 申请号： | 200810100791.X | 申请日： | 2008-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN101275944A | 公开（公告）日： | 2008-10-01 |
| 发明（设计）人： | 朱晓璐;易红;倪中华 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01N33/48 | 分类号： | G01N33/48;C12Q1/02;A61B5/00;A61B10/00 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人： | 叶连生 |
| 地址： | 211109江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 单细胞行波介电谱的高通量测试芯片的测试方法为：将测试芯片的各个端子分别连接到具有相同频率的正弦电压信号源端，使得任意两个相邻电极之间的相位超前或滞后量均相等，将含有待测细胞的液体样本从进样口(06)滴入测试芯片内部，然后在电极组(10)中心区域的细胞初始集聚区(32)投射光图案，从芯片基底(01)下方向微电极组(10)投射多个宽度约为细胞直径的条形光图案(31)，形成虚拟电极阵列，调节波形发生器的频率，同时通过显微镜上的CCD及图像记录设备将所有细胞在上述频段中的水平运动图像记录下来，如果实际已完成测试的细胞数量已能够满足测试需求，则测试过程结束。 | ||
| 搜索关键词： | 单细胞 行波 介电谱 通量 测试 芯片 方法 | ||
【主权项】：
1.一种单细胞行波介电谱的高通量测试芯片，其特征在于，该测试芯片包括微电极组(10)、芯片基底(01)、导电层(02)、带有过孔的绝缘层(03)、芯片中间间隔层(04)、芯片盖片(05)和进样口(06)；在芯片基底(01)上设有导电层(02)，在导电层(02)上设有带有过孔的绝缘层(03)，在带有过孔的绝缘层(03)的边沿上设有间隔层(04)，在芯片中间间隔层(04)内的带有过孔的绝缘层(03)上设有微电极组(10)，在芯片中间间隔层(04)上设有芯片盖片(05)，进样口(06)设在芯片盖片(05)的中部。
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