[发明专利]用光纤光栅测量应变分布的方法无效
| 申请号： | 200810101446.8 | 申请日： | 2008-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN101236074A | 公开（公告）日： | 2008-08-06 |
| 发明（设计）人： | 黄国君;邵进益 | 申请（专利权）人： | 中国科学院力学研究所 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16;G01D5/353 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 尹振启 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用光纤光栅测量应变分布的方法，包括以下步骤：(1)使用光谱仪测量发生应变分布后光线光栅的反射强度谱；(2)假设一应变分布，采用光纤光栅传递矩阵计算得到与该假设应变对应的重构反射强度谱，并使重构反射强度谱与已测得的反射强度谱进行比较，利用遗传算法叠代寻优；(3)将遗传优化计算获得的光纤光栅应变分布作为初值，进一步采用共轭梯度算法寻优，使重构反射强度谱与已测反射强度谱收敛更为接近，直至获得与该重构反射强度谱对应的应变分布，即为测得的最终应变分布。实验证明，采用本发明方法得到的应变分布测量结果与光纤受到的实际应变非常吻合，与传统的基于遗传优化算法的测量方法相比，测量精度大大提高。 | ||
| 搜索关键词： | 用光 光栅 测量 应变 分布 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用光纤光栅测量应变分布的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)使用光谱仪测量发生应变分布后光线光栅的反射强度谱；(2)假设一应变分布，采用光纤光栅传递矩阵计算得到与该假设应变对应的重构反射强度谱，并使重构反射强度谱与已测得的反射强度谱进行比较，利用遗传算法叠代寻优，不断优化应变分布，当重构反射强度谱与已测得的反射强度谱接近到一定程度，遗传优化计算停止；(3)将遗传优化计算获得的光纤光栅应变分布作为初值，进一步采用共轭梯度算法寻优，使重构反射强度谱与已测反射强度谱收敛更为接近，直至获得与该重构反射强度谱对应的应变分布，此时的应变分布即为测得的最终优化应变分布。
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