[发明专利]控制MOCVD淀积PZT的先驱体溶液配置方法无效
申请号: | 200810103811.9 | 申请日: | 2008-04-11 |
公开(公告)号: | CN101250691A | 公开(公告)日: | 2008-08-27 |
发明(设计)人: | 阮勇;谢丹;任天令;刘理天;林惠旺 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | C23C16/40 | 分类号: | C23C16/40 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100084北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 控制MOCVD淀积PZT的先驱体溶液配置方法属于PZT薄膜制备技术领域,具体特征在于,以溶质摩尔浓度为0.14mol/L,四氢呋喃30ml,四-乙二醇二甲醚4ml,Pb为27%,Zr为55%,Ti为18%,制成总溶剂体积为0.034L的特定组分PZT的先驱体溶液。用此溶液制备的Pb0.5(Zr0.4Ti0.6)0.5O3组分PZT薄膜,衬底为1~8英寸,均匀性大于95%,厚度为1500埃。 | ||
搜索关键词: | 控制 mocvd 淀积 pzt 先驱 溶液 配置 方法 | ||
【主权项】:
1.控制MOCVD淀积PZT的先驱体溶液配置方法,其特征在于,所述配置方法依次含有如下步骤:步骤(1)设定:溶质摩尔浓度为0.14mol/L,四氢呋喃为30ml,四-乙二醇二甲醚为4ml,Pb为27%,Zr为55%,Ti为18%,按下式计算Pb、Zr、Ti的单质用量,制成的总溶剂体积为0.034L先驱体溶液:单质用量=单质元素百分比×溶质摩尔浓度×总溶剂体积×摩尔质量,其中,相当于单质用量的三种单质固态源分别为Pb(THD)2、Zr(THD)2以及Ti(O-iPr)2(THD)2,其摩尔质量依次分别为572g/mol、452g/mol以及526g/mol,得到Pb=0.735g,Zr=1.183g,Ti=0.451g;步骤(2)把步骤(1)所述三种单质固态源先分溶于四氢呋喃溶剂,再加入适量的防止热解的四-乙二醇二甲醚,配置成先驱体溶液;步骤(3)在室温下,把步骤(2)得到的先驱体溶液搅拌2~4小时,将固体溶质充分溶解在四氢呋喃溶剂中,以便在特定衬底上制备120nm-150nm的PZT薄膜。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
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C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的