[发明专利]阵列电路维修系统及维修方法有效
| 申请号： | 200810105015.9 | 申请日： | 2008-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN101566739A | 公开（公告）日： | 2009-10-28 |
| 发明（设计）人： | 葛兴;田震寰;权基瑛 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 申 健 |
| 地址： | 100176北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阵列电路维修系统以及维修方法，涉及电路故障检测与维修技术领域；为解决现有技术中对无法确定的不良放弃维修的问题而发明。所述系统包括：系统控制单元，所述系统控制单元连接有运动单元，所述运动单元设置有查找定位单元以及维修单元，所述运动单元上还设置有线性扫描检测单元。所述方法包括：对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测，得到准确的不良信息；根据所述的不良信息进行不良的查找定位；对所述不良进行维修。本发明所述系统，可用于阵列电路的检测，通过对无法确定的不良进行线性扫描检测，得到不良的具体点坐标，并进行维修，可以提高良品率，节约成本。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 电路 维修 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种阵列电路维修系统，包括：系统控制单元，所述系统控制单元连接有运动单元，所述运动单元设置有查找定位单元以及维修单元，其特征在于，所述运动单元上还设置有线性扫描检测单元，其中线性扫描检测单元用于对坐标不确定的不良进行线性扫描检测，得到准确的不良信息。
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