[发明专利]一种薄膜电解质及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200810105929.5 申请日: 2008-05-07
公开(公告)号: CN101388261A 公开(公告)日: 2009-03-18
发明(设计)人: 吴锋;刘亚栋;陈人杰;陈实;李丽;王国庆 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: H01B1/00 分类号: H01B1/00;C04B35/00;C23C14/35;H01M6/18;H01M10/36
代理公司: 北京理工大学专利中心 代理人: 张利萍
地址: 100081北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种薄膜电解质及其制备方法,是通过磁控溅射法制备具有NASICON结构的锂薄膜电解质,其具有较高的离子电导率、良好的化学稳定性、较宽的电化学稳定窗口、优良的机械性能及宽的应用温度范围。通过掺杂元素种类及比例的变化,得到不同性能的薄膜电解质,并通过溅射过程中氮气的引入,进一步改善了薄膜的性能。该薄膜电解质在薄膜锂电池、薄膜超级电容器、电致色变器件、传感器或其他新型电化学器件领域有广阔的应用前景。
搜索关键词: 一种 薄膜 电解质 及其 制备 方法
【主权项】:
1. 一种薄膜电解质材料,其特征在于:组成成分可用Li-M-Ti-P-O-N来表示;以NASICON结构的LiTi2(PO4)3为基础,通过用三价离子Al3+、Sc3+、La3+、Cr3+、Fe3+、Tl3+、Eu3+、In3+、Y3+或四价离子Si4+分别部分取代其中的Ti4+或P5+形成Li1+xMxTi2-x(PO4)3或Li1+yTi2(P1-ySiyO4)3,或同时掺入上述多种元素取代;在N2气氛中溅射制备薄膜时掺入N元素,其中N在电解质中所占的质量分数为0%~27%;所制备薄膜为非晶态,通过高温退火处理,可制备成玻璃-陶瓷态;所述组成成分中的M,为Al、Sc、La、Cr、Fe、Tl、Eu、In、Y或Si中的一种或多种。
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