[发明专利]测量电致自旋荧光的显微测量系统无效
| 申请号： | 200810106706.0 | 申请日： | 2008-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN101581672A | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 肖文波;郑厚植;徐萍;鲁军;刘剑;李桂荣;谭平恒;赵建华;章昊;朱汇;甘华东;李蕴慧;朱科;吴昊;张泉;袁思芃;罗晶;申超;李科 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01N21/66 | 分类号： | G01N21/66 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 100083北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明一种测量电致自旋荧光的显微测量系统，其特征在于，包括：一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片，所述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距离，且位于同一光路上；一磁体系统；一数字电压源表，该数字电压源表与磁体系统并联；一超长工作距离显微物镜，该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分之一波片和磁体系统之间，且在同一光路上。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 自旋 荧光 显微 系统 | ||
【主权项】：
1、一种测量电致自旋荧光的显微测量系统，其特征在于，包括：一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片，所述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距离，且位于同一光路上；一磁体系统；一数字电压源表，该数字电压源表与磁体系统并联；一超长工作距离显微物镜，该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分之一波片和磁体系统之间，且在同一光路上。
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