[发明专利]一种实现版图验证中密度检查的方法有效

专利信息
申请号: 200810113123.0 申请日: 2008-05-28
公开(公告)号: CN101593222A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 李宁;侯劲松;白岩 申请(专利权)人: 北京华大九天软件有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 10001*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种快速实现版图验证中密度检查的方法,属于IC CAD工具中版图验证领域。密度检查是IC CAD工具版图验证中设计规则检查(DRC)中的一种图形操作。密度检查的基本含义是检查某一层图形的面积在总的区域面积中所占的百分比。有些密度检查要求计算层的图形位于另外一个对照图形层内部时面积计算才有效。它的描述方式是:Density被计算图形层Inside of对照图形层。在这种条件下,密度计算实现难度大。本发明提出了针对上述条件的密度检查实现方法,可以大大提高密度检查有对照层的计算效率。
搜索关键词: 一种 实现 版图 验证 密度 检查 方法
【主权项】:
1.版图验证中密度检查的一种快速分桶实现方法,用于检查被计算层图形位于对照图形层内部的面积在对照图形层面积中所占的百分比,其特征在于该方法具体步骤如下:(1)自左向右扫描对照层,计算对照层图形的边框;(2)按照对照层图形的图形数目确定分桶原则,划分均匀的两维的桶,将对照层图形的边框分配到桶中;(3)自左向右扫描被计算层,在每个被计算层图形结束时,计算该被计算层图形位于哪个桶内,查找该桶内的每个对照层图形的边框,执行步骤(4)、(5)、(6);(4)临时层TemLayer1=该被计算层图形,TemLayer2=该对照层图形边框,TemLayer3=AndTemLayer1 TemLayer2;(5)以TemLayer3的面积作为计算密度的分子,以TemLayer2的面积作为计算密度的分母,计算比值;(6)判断比值是否符合约束,如果符合,该对照层图形即为结果,进行输出。
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